SPI Flash芯片辐射发射（RE）问题:
某款产品在3米法电波暗室进行辐射（RE）发射测试时,发现多个频点余量不满足6dB管控要求.
通过频谱分析仪近场探头分析定位到干扰频点来自于SPI Flash时钟信号的高次谐波干扰，深入分析发现SPI Flash时钟信号回流主芯片的参考地存在严重的分割情况，造成时钟信号回流面积变大，引起辐射发射测试超标。修改PCB Layout，调整SPI Flash时钟信号参考地平面，使之参考地平面保持完整性，并优化SPI Flash芯片其它信号布线，时钟信号两侧包地隔离串扰。PCB Layout修改后，回板重新测试辐射发射，其结果满足6dB余量管控标准的要求.
SPI Flash芯片时钟信号工作频率及高次谐波频率的辐射发射问题，在电子产品中是经常遇到。大部分工程师首先想到的是降低信号幅度，增加滤波电路，费了九牛二虎之力发现效果还不理想，往往是求解无门。即使是增加滤波电路勉强解决辐射发射问题，回头发现信号质量又不满足设计要求，被问题搞的焦头烂额，束手无策。
SPI Flash信号参考完整性的问题却容易被工程师们忽略，保持时钟信号参考完整性是解决辐射发射问题的杀手锏之一，本案例就深刻的诠释是参考完整性的重要性，且能够保证对策的低成本，还能够信号的高质量。
原文链接：SPI Flash芯片辐射发射（RE）问题调试案例
我的总结：
1.CLK信号线是辐射超标的重灾区
2.一定要保证信号线的GND平面的完整性
MLCC电容器啸叫：
MLCC电容器发生啸叫主要是由陶瓷的压电效应引起的，准确来说是陶瓷的逆压电效应。MLCC电容器由于其特殊的结构，当施加在两端的电场变换时，可以引起成比例的机械应力的变化，此为逆压电效应，当振动频率落入人耳听觉范围内时，就会产生噪音，即所谓的“啸叫”。
较大的交变电压，频率在20Hz到20kHz之间，使用X7R/X5R类中高容量MLCC，会产生明显的啸叫，如开关电源、高频电源等场合。
DC/DC开关电源的开关频率频率落在20~20kHz的音频范围，且周期性变化的电流经过电感线圈而产生交变磁场，使得该电感线圈在交变磁场作用下像“喇叭”一样在几乎固定的频率上产生机械振动而发出啸叫。啸叫声音的大小与电感绕制的质量有一定关系，绕制较松，其产生的啸叫声将较大。
